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嵌入式系统中的自我测试
嵌入式系统中的自我测试
除非可用内存完全耗尽，否则在嵌入式设计中实施某些自测试功能是值得的。
尽管现代电子产品非常可靠，但它们仍然容易出现故障。嵌入式系统中的故障大致可分为四类：
中央处理器
外设
记忆
软件错误
如果 CPU 出现故障，则往往是硬故障。在这个系统中没有自检的可能性。CPU 出现部分故障的可能性很小。当系统中有多个核心时，最好将一个核心分配为“主”，以便它可以监控系统完整性。
移动测试
外设可能会以多种方式出现故障，但其中许多是特定于设备/应用程序的。当设备无法响应其地址时，就会发生陷阱；必须包含一个陷阱处理程序来处理此故障。否则，通信设备通常包括“环回”模式，可以测试传输和接收以及相关的中断。
内存故障随时可能发生。这种故障可能是暂时的——例如，一个位被经过的宇宙射线翻转。这种故障通常是无法检测到的，可能会导致软件崩溃。因此，适应崩溃恢复是必不可少的。如果没有收到地址响应，或者位停留在 0 或 1，则可能会出现硬故障。陷阱处理程序处理前者，但后者需要一些特定的测试。全面的内存测试只能在设备启动时进行。移动测试是有效的。
堆栈保护词
在设备运行时，可以对单个字节或字执行模式测试，这可能会揭示某些类型的故障。
在现代设备中，软件是最复杂的组件。即使软件不会磨损，其复杂性也会导致在开发过程中难以检测到的故障。好的防御性编码技术可以帮助预测一些问题。
一般来说，有两种类型的软件错误：
数据损坏
代码循环。
数据损坏可能是由指针误用引起的，这很难检测或预防，但也可能是数据结构（如数组或堆栈）溢出的结果。插入“保护字”可以帮助在造成任何损坏之前检测溢出。
代码循环可以通过精心设计来解决——预防措施如等待设备超时——或者某种监视无响应代码的看门狗设施（在硬件或软件中）。